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21.
严玉萍 《兵团教育学院学报》2008,18(3):52-53
基于Intemet的现代远程教育是一种全新的教育形态。文章讨论了实现高质量的现代远程教育的几种技术支持。 相似文献
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在并行离散事件仿真系统中实现仿真模型间的互操作机制需要引入类似HLA中定义的声明管理(DM)和数据分发管理(DDM)服务.我们开发的KD-PADSE高性能并行离散事件仿真环境采用谓词断言和对象代理方法在面向对象的并行离散事件仿真系统中实现了基于平行结构和事件调度机制的声明管理(DM)和数据分发管理(DDM)服务.在以千兆以太网互联的10节点Linux集群计算机上,采用DDM机制后仿真模型每秒(物理时间)可以进行1万次属性更新,是没有采用DDM机制时的20倍,在功能性和性能上验证了该DDM机制在并行离散事件仿真系统中的适用性. 相似文献
26.
针对数据传输系统丢点问题,依据连续正弦信号瞬时相位差分特性,探讨了一种自动检测数据传输系统丢点方法。首先在数据传输系统采集前端加入正弦信号;然后将解包好的数据通过希尔伯特变换求取数据瞬时相位,并从前向后进行相位补偿,使数据瞬时相位呈连续递增形式;最后通过相位差分法求得瞬时相位前向差分。由理论分析可知:连续正弦信号未丢点时,当前位置数据相比前一位置数据相位差为2πfc/fs(fc为正弦信号频率,fs为数据传输系统采样率);连续正弦信号丢点时,当前位置数据相比前一位置数据相位差为2πfc(n+1)/fs(n为传输数据丢失点数)。由此特性,可实现对数据传输系统是否丢点实现自动检测。理论分析和实验结果表明,探讨的数据传输系统丢点检测方法可实现对数据传输系统是否丢点实现自动检测,便于工程应用。 相似文献
27.
给出了一种基于最大后验概率候选集更换法的多故障诊断策略,并深入阐述了基于最大后验概率候选集更换法的形式化描述,分析了对单故障诊断和多故障诊断的计算模型,提出了基本的故障诊断算法——改进二进制粒子群算法,并对抽象实例进行验证,结果表明,采用改进BPSO算法能有效地求解基于最大后验概率候选集更换法的多故障诊断问题。 相似文献
28.
分析了“便携式火药分析试验综合信息平台”的关键组件——SP2100气相色谱仪数据采集卡的工作原理,对采集卡硬件、软件进行了设计。在采集卡软件设计中,重点对固件程序设计及驱动程序设计进行论述。试验证明:SP2100气相色谱仪数据采集卡提高了试验系统自动化程度和试验效率,缩短了试验周期。 相似文献
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Today, many products are designed and manufactured to function for a long period of time before they fail. Determining product reliability is a great challenge to manufacturers of highly reliable products with only a relatively short period of time available for internal life testing. In particular, it may be difficult to determine optimal burn‐in parameters and characterize the residual life distribution. A promising alternative is to use data on a quality characteristic (QC) whose degradation over time can be related to product failure. Typically, product failure corresponds to the first passage time of the degradation path beyond a critical value. If degradation paths can be modeled properly, one can predict failure time and determine the life distribution without actually observing failures. In this paper, we first use a Wiener process to describe the continuous degradation path of the quality characteristic of the product. A Wiener process allows nonconstant variance and nonzero correlation among data collected at different time points. We propose a decision rule for classifying a unit as normal or weak, and give an economic model for determining the optimal termination time and other parameters of a burn‐in test. Next, we propose a method for assessing the product's lifetime distribution of the passed units. The proposed methodologies are all based only on the product's initial observed degradation data. Finally, an example of an electronic product, namely contact image scanner (CIS), is used to illustrate the proposed procedure. © 2002 Wiley Periodicals, Inc. Naval Research Logistics, 2003 相似文献
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